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000万小时的GaN工艺牢靠性测试

发布时间:2019/3/18 19:08:03 点击量:

  “餍足EMC分歧性测试最先请求其策画、电路板组织和元件选型合理,但纵使正在最好的处境中,假如没有预分歧性测试,那么思通过度歧性测试也是一种冒险。”Wyatt Technical Services首席照料及EMC分歧性测试专家Kenneth Wyatt说,“我激烈撑持泰克EMCVu所做的作事,让更众的工程师能够达成预分歧性测试,纵使是缺乏深化EMC专业学问的工程师也能收获颇丰。

  LMT86DCKT是一款严密的CMOS温度传感器,诈欺与温度线性成反比的模仿输出电压。该器件的作事电压可低至2.2V,电源电流为5.4A,是电池供电使用的理思器。

  策画职员能够运用LMG1020EVM-006和LMG1210EVM-012评估模块和SPICE模子神速轻松地评估这些新器件。工程师能够诈欺LIDAR的纳秒激光驱动器参考策画和高速DC / DC转换器的众兆赫GaN功率级参考策画,神速早先氮化镓策画。

  DRV8701ERGER是一款采用四个外部N沟道MOSFET的单一H桥栅极驱动器,面向双相逆变器驱动一个双向有刷直流电机。阶段/启用(DRV8701E)驾驭计划许诺简陋地相联到单片机电路。一个内部检测放大器许诺运用外部检测电阻进行可调理的电流驾驭。栅极驱动器席卷运用固定关断时间PWM来驾驭绕组电流的材干电流堵截。DRV8701采用9.5 V VGS栅极驱动器驱动高端和低端FET来自一个集成的电荷泵。所有外部FET的栅极驱动电流能够是正在IDRIVE引脚上设置装备摆设一个外部电阻。

  全内置预分歧性测试治理计划价值经济,席卷RSA306B USB频谱仪、SignalVu-PC及EMCVu插件、近场探头、LISN放射辐射测试天线、三脚支架和线缆,大致上和EMC测试机构测试一次的用度相当。

  ●高恶果:这两款器件均可达成高恶果策画。LMG1210供给1 pF的低开关节点电容和用户可调的死区时间驾驭,可将恶果进步众达5%。正在当今电子策画处境中,大约有一半的产物会正在初次电磁兼容性(EMC)测试中展示题目。依靠抢先1,000万小时的GaN工艺牢靠性测试,TI供给牢靠的GaN产物以餍足对成熟和即用型治理计划的需求,为GaN技艺带来数十年的硅专业技艺和高级器件人才。该器件是功率转换使用的理思采取,由于其策画可将损耗降至最低,而SON的尺寸仅为5mm×6mm。2018年3月13日讯环球领先的衡量治理计划供给商泰克科技日前推出EMCVu一种用于EMI/EMC预分歧性测试和题目调试的新型团体治理计划。CSD18540Q5B是一款60V N沟道MOSFET,RDS额定值为1.8m。EMCVu为工程师供给了一种精确、简单、经济的要领,评估其产物策画可否第一次就通过EMC分歧性测试。LMG1020和LMG1210是业界最大的GaN电源产物组合中的最新成员,从200V驱动器到80V和600V功率级。运用数字驾驭振荡器(DCO)MSP430G2553能够正在低于1s的时间内从低功耗形式叫醒。000万小时的G2018年3月13日,努力于亚太区域市集的领先半导体元器件分销商---大控股发表,其旗来世平推出基于德州仪器(TI)产物的推出有刷式直流电机参考策画,aN工艺牢靠性测试由DRV8701栅极驱动器、MSP430G2553IPW20超低功耗微驾驭器、CSD18540Q5B 60V N沟道MOSFET和LMT86DCKT严密CMOS温度传感器等器件构成。别的,LMG1020可以或许供给高功率1ns激光脉冲,达成近程LIDAR使用。此中一些功用席卷五种差异的低功耗形式,一个16位RISC CPU、16位寄放器和常量发作器。●高速:这两款器件可供给超高速撒播延迟(2.5 ns [LMG1020]和10 ns [LMG1210]),使电源治理计划比采用硅驱动器速50倍。

  MSP430G2553IPW20是一款超低功耗微驾驭器,由很众差异的器件构成特点。LMG1020和LMG1210可正在供给50 MHz的开关频次的同时进步恶果,并可达成以往硅MOSFET无法达成的5倍更小尺寸治理计划。德州仪器(TI)近日发表推出两款新型高速氮化镓(GaN)场效应晶体管(FET)驱动器,进一步扩展了其业内领先的GaN电源产物组合,可正在激光雷达(LIDAR)以及5G射频(RF)包络追踪等速率环节使用中达成更高效、功能更高的策画!

  依靠业内最佳的驱动速率以及1 ns的最小脉冲宽度,LMG1020 60-MHz低侧GaN驱动器可正在工业LIDAR使用中运用高精度激光器。小型晶圆级芯片(WCSP)封装尺寸仅为0.8 mm x 1.2 mm,有助于最大限度地节减栅极环路寄生和损耗,进一步擢升恶果。

  ●功率密度:LMG1210中的死区时间驾驭集凯旋用可节减元件数目并进步恶果,使策画职员可以或许将电源尺寸下降众达80%。功率密度扩充的LMG1020,使LIDAR具有业内最小封装和最高区别率。

  对待方才早先运用物联网开发的很众工程师而言,EMI/EMC测试令人搅扰,而分歧性测试失败会导致主要的本钱扩充和产物上市时间延迟。预分歧性测试能够下降通过度歧性测试失败概率,但也有其本身的挑拨,比方开发创立艰难、本钱高、测试精确性存疑,调试难度大,匮乏通知编制用具等。

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